光耦电路分析问题
光耦隔离电路的问题? -
光耦隔离电路可能出现的问题包括性能不稳定、传输速度受限以及电路布局复杂性。解释如下：光耦隔离电路性能不稳定问题光耦隔离电路主要利用光信号进行输入输出的隔离，但如果环境中的光线干扰较大或者光信号传递路径中存在问题，可能会导致光耦电路的性能受到影响。在这种情况下，可能会出现数据丢失或者错误的情况到此结束了？。
电容是滤波，二极管用处不大，有可能是给电容放电的电流=（24-1.8）2000=2.2=11MA
光耦隔离电路可能出现的问题包括性能不稳定、传输速度受限以及电路布局复杂性。解释如下：光耦隔离电路性能不稳定问题光耦隔离电路主要利用光信号进行输入输出的隔离，但如果环境中的光线干扰较大或者光信号传递路径中存在问题，可能会导致光耦电路的性能受到影响。在这种情况下，可能会出现数据丢失或者错误的情况到此结束了？。
电容是滤波，二极管用处不大，有可能是给电容放电的电流=（24-1.8）2000=2.2=11MA
光耦输入侧光二极管需要加限流电阻。MOS管栅极需要加稳压管限压。24V可能导致MOS管g-s击穿。
你分析的没有错。关键在于电路对于高阻是如何处理。某些器件将输入高阻（悬空）视为低电平，某些器件将输入高阻视为高电平，还有某些器件输入不允许高阻。因此，是否正确，关键看其后电路。
光耦隔离电路的问题? -
电流大，带负载能力强。缺点是如果后面的电路对地短路了，就烧掉光耦了。图1输出高电平时串了一个电阻，使电流很小，如果后面的电路输入阻抗低，就会造成电压降低，甚至工作不稳定，但光耦是安全的，不会被烧掉。因此，图2抗干扰能力强，但不够安全。图1电路不容易坏，但带负载能力差。
你设计的思路是这样的：正常情况下，当光耦接入高电平时光耦导通，三极管基极电压通过光耦的后面到地，三极管截止，继电器线圈没有电流通过继电器断开。没有输入高电平时继电器是闭合的。但是你的光耦设计错了，应该是1脚接正极，2脚接地，3脚接24VGND ,4脚接R12是对的。
关于电子电路问题 已附图, 求解答。这是一个光耦。 -
Ib 增大，三极管饱和导通，Vce ≈ 0.1V，5、6 脚导通。这就是光电耦合器的原理，至于你的测量结果，要结合具体电路分析。你说：“外围电路就是 8脚17V, 5脚0V 6脚怎么会17V”，电路结构可能是：要么没有输入信号，三极管不导通；要么有输入信号，光耦芯片坏了。
电阻R2，光耦的发光二极管，到地，发光二极管因为有电流通过而发光，致使三极管接收端导通，电源VCC通过R3，IC1的三极管端，到地。单片机程序也很简单：CLR P1.2(等等)对于数字量，当输入为低电平时，光敏三极管截止，输出为高电平；当输入为高电平时，光敏三极管饱和导通，输出为低电平；..
怎样设计一个电路测试光耦的好坏 -
1、比较法拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。2、数字万用表检测法下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法。检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字到此结束了？。
基本上正常啊，发光管也有压降的。不断变化可能是干扰引起的，