NANO三坐标

三丰量具社长致辞 -
为了保持我们备受信赖的品牌形象，我们深感感激每一位对三丰商品给予厚爱和支持的朋友们！自1934年（昭和9年）创立以来，三丰始终坚持「品质第一」的信念，为全球市场提供了包括千分尺、卡尺在内的测量工具，以及三坐标测量机、形状测量机和视像及光学测量机在内的精密测量仪器。这些产品凭借卓越性能赢得了是什么。
国外在此领域主要开展用于晶体缺陷的激光扫描层析(Laser Scanning Tomograph)技术，用于研究样品顶部几个微米之内缺陷情况的纳米激光雷达技术(Nanoladar),其探测尺度分辨率均可达到1nm。3 图像识别测量技术随着近代科学技术的发展，几何尺寸与形位测量已从简单的一维、二维坐标或形体发展到复杂的三维物体测量，从宏观物体发希望你能满意。