当前位置 > x荧光光谱分析仪x荧光光谱分析仪可以检测什么

• 

  X射线荧光光谱分析仪分析铁矿石的意义

  在铁矿石中,其化学成分十分复杂,通常需借助多种化学分析方法加以测定,需要花费较长的时间周期,且操作十分复杂。奥林巴斯便携式X射线荧光光谱仪可以测量的元素范围十分广泛,且自动化特征明显,能够实现无损分析目标,并在地质、环保以及冶金等领域得到了广泛地应用。赢洲科技...

  2024-08-23 网络 更多内容 285 ℃ 481
• 

  X射线荧光光谱仪

  自从1895年伦琴(Roentgen WC)发现X射线之后不久,莫斯莱(Moseley HG)于1913年发表了第一批X射线光谱数据,阐明了原子结构和X射线发射之间的关系,并验证出X射线波长与元素原子序数之间的数学关系,为X射线荧光分析奠定了基础。1948年由弗里特曼和伯克斯设计出第一台商业用...

  2024-08-23 网络 更多内容 846 ℃ 135
• 

  X射线荧光光谱仪的介绍

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准...

  2024-08-23 网络 更多内容 274 ℃ 339
• 

  X荧光分析仪的简介

  因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WDEXRF)和...

  2024-08-23 网络 更多内容 662 ℃ 479
• 

  X荧光分析仪的X荧光分析仪的发展历程

  早在1959年中科院地质研究所曾试制成功第一代单光路的平面晶体X射线荧光光谱仪。从1971年起,上海电子光学研究所等单位先后研制了两种类型多道X射线荧光光谱仪。一是DXY1DXY3等三种型号的全真空多光路X射线荧光分析仪,另一种是多光路全聚焦式X射线荧光分析仪。 在能...

  2024-08-23 网络 更多内容 538 ℃ 168
• 

  X射线荧光分析仪的产品特点

  为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射... 因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素 的含量较高或者能量较高,其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量 值...

  2024-08-23 网络 更多内容 873 ℃ 307
• 

  手持式X荧光光谱仪

  不大。 手持式光谱仪是一种基于XRF(X Ray Fluorescence,X射线荧光)光谱分析技术的光谱分析仪器,主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成,由于其便携具有高效、便携、准确等特点,使其在合金、矿石、环境、消费品等领域有着重要的应用。

  2024-08-23 网络 更多内容 102 ℃ 351
• 

  X荧光光谱仪的介绍

  X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被岩漏测样品粗裤烂,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光纯销进行检测。

  2024-08-23 网络 更多内容 512 ℃ 290
• 

  X荧光分析仪的工作原理及特点

  荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。 从原子物理学的知识我们知道,对每=一=种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子... 以50KV的低功率X射线发生器作为激发源,从X射线管产生的初级X射线通过滤光片后直接激发样品,通过选择激发条件更能获得最佳的分析结果...

  2024-08-23 网络 更多内容 429 ℃ 553
• 

  X射线荧光分析仪

  X 射线荧光分析的工作原理 使用X射线直接照射试样,测定由此产生的2次X射线(X射线荧光)的能量强度.用此法可无须破坏样品进行样品定性分析和定量分析.与其他分析方法相比,处理更简单,可快速分析,这是X射线荧光分析的一大特长。 技术参数 可测量元素:原子序数13(Al)～92(U) 样品...

  2024-08-23 网络 更多内容 832 ℃ 716